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快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

簡要描述：

可模擬電子元件在運(yùn)輸、存儲、使用過程中面臨的溫濕度變化，為芯片、傳感器、電容等元件的可靠性驗(yàn)證提供核心支持，廣泛應(yīng)用于電子研發(fā)、質(zhì)檢及批量抽檢環(huán)節(jié)。快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

型號：TEB-408PF

瀏覽量：496

更新時(shí)間：2025-09-12

價(jià)格：32000

詳細(xì)介紹

品牌	廣皓天	產(chǎn)地	國產(chǎn)
溫度波動(dòng)范圍	士0,3'C(-20~+100'C)±0.5C(+100.1~+150C)+2.5%RH	外殼材料	防銹處理冷軋鋼板士2688粉體涂裝或SUS304不銹鋼
內(nèi)體材料	不銹鋼板(SUS304CP種，2B拋光處理)	絕緣材料	硬質(zhì)聚氨酯泡沫塑料(箱體用)玻璃棉(箱門用)

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

產(chǎn)品詳情與核心用途

設(shè)備采用一體化緊湊型設(shè)計(jì)，占地面積僅 0.8-1.2㎡，工作室容積 10-50L，適配小批量電子元件測試；外殼為冷軋鋼板噴塑，內(nèi)膽用 SUS304 不銹鋼，兼具耐用性與易清潔性。核心用途包括：一是電子元件高低溫循環(huán)測試，模擬晝夜溫差或地域溫度變化，驗(yàn)證元件參數(shù)穩(wěn)定性；二是快溫變沖擊測試，通過快速升溫 / 降溫（溫變速率可達(dá) 10-20℃/min），檢測元件抗溫度沖擊能力，如芯片焊點(diǎn)是否開裂；三是溫濕度組合測試，搭配加濕系統(tǒng)模擬高濕高溫環(huán)境，評估元件抗潮濕腐蝕性能，如電容漏電流變化。

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-60℃~150℃，滿足絕大多數(shù)電子元件耐候測試需求；

溫變速率：5-20℃/min（可調(diào)節(jié)，空載）， 20 分鐘實(shí)現(xiàn) - 40℃~120℃切換；

溫度精度：波動(dòng)度≤±0.5℃，均勻度≤±2℃；

濕度范圍：20% RH~98% RH（溫度≥10℃時(shí)），波動(dòng)度≤±3% RH；

運(yùn)行方式：支持程序控制，可存儲 50 組測試程序，每組含 30 段溫濕度階梯。

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

核心系統(tǒng)與工作原理

溫度控制系統(tǒng)

采用 “PID 閉環(huán)控制 + 雙傳感器" 設(shè)計(jì)：進(jìn)口鉑電阻傳感器實(shí)時(shí)采集工作室溫度，PID 控制器根據(jù)溫差動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)鎳鉻合金加熱管與制冷系統(tǒng)功率；配備快速溫變模塊，通過加大加熱 / 制冷負(fù)荷，實(shí)現(xiàn)高速率溫變，同時(shí)避免溫度超調(diào)。

快溫變小型高低溫試驗(yàn)箱電子元件耐候測試

制冷系統(tǒng)

采用單級 / 雙級壓縮制冷（-60℃以下用雙級），搭配 R404A 環(huán)保制冷劑；進(jìn)口壓縮機(jī)提供穩(wěn)定冷量，高效翅片冷凝器與軸流風(fēng)機(jī)加速散熱；蒸發(fā)器采用無霜設(shè)計(jì)，配合智能除霜程序，確保低溫工況下制冷效率。

加濕系統(tǒng)

采用超聲波加濕方式，霧化量可調(diào)（0-300ml/h）；配備水位傳感器與自動(dòng)補(bǔ)水裝置，避免干燒；加濕蒸汽經(jīng)濾網(wǎng)過濾，防止雜質(zhì)進(jìn)入工作室，保障電子元件不受污染。

工作原理

設(shè)備通過溫度、制冷、加濕系統(tǒng)協(xié)同工作：升溫時(shí)，加熱管啟動(dòng)，風(fēng)機(jī)循環(huán)空氣使溫度均勻；降溫時(shí)，制冷系統(tǒng)運(yùn)行，快速降低工作室溫度；加濕時(shí)，超聲波發(fā)生器產(chǎn)生水霧，與循環(huán)空氣混合調(diào)節(jié)濕度。同時(shí)，控制系統(tǒng)根據(jù)預(yù)設(shè)程序，自動(dòng)切換溫濕度參數(shù)，模擬不同環(huán)境條件，實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄數(shù)據(jù)，為電子元件耐候性評估提供依據(jù)。

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